久久偷看各类WC女厕嘘嘘偷窃,久久久久精品,天天摸夜夜添狠狠添婷婷,国模叶桐尿喷337P人体

　　項目簡介

　　AFM全稱Atomic Force Microscope，即原子力顯微鏡，它是繼掃描隧道顯微鏡(Scanning Tunneling Microscope)之后發(fā)明的一種具有原子級高分辨的新型儀器，可以在大氣和液體環(huán)境下對各種材料和樣品進行納米區(qū)域的物理性質包括形貌進行探測，或者直接進行納米操縱。

　　常見項目

　　原子力顯微鏡-普通模式

　　原子力顯微鏡-特殊模式：表面形貌KPFM、壓電PFM、納米力學QNM(力曲線、楊氏模量)、導電性能C-AFM、磁學性能MFM、靜電力EFM 以及表面形貌、厚度、粗糙度測試;

　　結果展示

　　表面形貌

　　常見問題

　　1. AFM粉末制樣，基片選擇有哪些?

　　AFM粉末制樣時基片的選擇有云母、高序熱解石墨HOPG、單晶硅片、玻璃、石英等;一般要結合樣品的親疏水、表面化學特性等選擇合適的基片，對于詳細研究粉體尺寸、形狀等特性，應盡量選取表面原子級平整的韻母、HOPG等作為基片;

　　2. AFM測試數據有哪些?

　　可得到樣品表面形貌(2D、3D)以及粗糙度和厚度/高度;

　　3. AFM拍攝范圍一般是多大?

　　不像SEM、TEM或者金相那樣，測試時規(guī)定倍數要求，AFM一般要告知掃描范圍，常規(guī)是1*1μm到10*10μm;范圍過小，分辨率可能達不到，范圍過大，可能可能測不出來較好的圖像，而且會增加掃描時間;

　　4. 特殊模式和數據有哪些?

　　表面形貌測試：可得到樣品表面形貌(2D、3D)以及粗糙度和厚度/高度;

　　導電性能測試(C-AFM)：同時得到形貌和電流分布圖;也可以進行選區(qū)I-V曲線測試;

　　表面電勢測試(AFM-KPFM): 表面電荷的半定性表征，能直接測量探針和樣品之間的電勢差;

　　磁學性能測試(AFM-MFM)：微區(qū)磁疇的分布表征;

　　納米力學測試(AFM-QNM)：力學圖譜測量，可通過擬合力學曲線得到樣品的楊氏模量，得到微區(qū)的楊氏模量分布，適用于較軟樣品高級納米力學成像模式，可對有機物，高分子以及金屬材料進行掃描，同時得到形貌和模量分布;

　　壓電力測量(AFM-PFM)：薄膜，陶瓷，晶體，纖維材料的表面鐵電疇表征，極化反轉和蝴蝶曲線測試，疇操縱;