項目簡介
通過對測量到的XRR數(shù)據(jù)進(jìn)行處理和解析，可以獲得樣品的表面形貌、薄膜的厚度、界面的結(jié)構(gòu)等信息。
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置高寬參數(shù)，將以原圖輸出)
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