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　　項目簡介

　　X射線熒光光譜儀(X-ray Fluorescence Spectrometer，簡稱：XRF光譜儀)，是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。一般是半定量測試，測到的都是元素含量，氧化物含量也是根據(jù)單質含量進行換算的，可作為一種快速的無損分析。

　　可測元素范圍：常規(guī)測試范圍9F-92U，部分儀器可以測到O元素，如果需要測到O需要備注好，但是O的結果不準。

　　制樣方法：壓片、融片

　　結果模式：單質、氧化物

　　結果展示

　　常見問題

　　1. 儀器的檢測限多少?元素含量低于多少結果會不可靠?

　　理論上儀器的檢測限為ppm—100%，但實際上 當元素含量低于1%時測量會存在誤差，結果只能做為參考;

　　2. XRF對樣品有什么要求，片狀樣品可以測試嗎?

　　XRF樣品z好磨成粉末，且樣品量確保在3g以上，因為需要和淀粉壓片后測試，如果樣品量太少，會導致結果不準確;

　　片狀樣品要求表面平整光潔無污染，直徑34-38 mm，厚度為3-5 mm的圓柱;只能定性+半定量，如需準確定量z好是粉末，且顆粒大的必須磨成粉。