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可靠性驗證

半導(dǎo)體

可靠性試驗的目的是在研制階段使產(chǎn)品達(dá)到預(yù)定的可靠性指標(biāo)，在產(chǎn)品研制定型時進(jìn)行可靠性鑒定，在生產(chǎn)過程中控制產(chǎn)品的質(zhì)量，對產(chǎn)品進(jìn)行篩選以提高整批產(chǎn)品的可靠性水平。海懷檢測可靠性試驗為您的產(chǎn)品研發(fā)與生產(chǎn)提供技術(shù)支持。

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項目介紹

一般來說，可靠度是產(chǎn)品以標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)條件下，在特定時間內(nèi)展現(xiàn)特定功能的能力，可靠度是量測失效的可能性，失效的比率，以及產(chǎn)品的可修護(hù)性。

芯片可靠性測試主要分為環(huán)境試驗和壽命試驗兩個大項，其中環(huán)境試驗中包含了機(jī)械試驗（振動試驗、沖擊試驗、離心加速試驗、引出線抗拉強(qiáng)度試驗和引出線彎曲試驗）、引出線易焊性試驗、溫度試驗（低溫、高溫和溫度交變試驗）、濕熱試驗（恒定濕度和交變濕熱）、特殊試驗（鹽霧試驗、霉菌試驗、低氣壓試驗、靜電耐受力試驗、超高真空試驗和核輻射試驗）；而壽命試驗包含了長期壽命試驗（長期儲存壽命和長期工作壽命）和加速壽命試驗（恒定應(yīng)力加速壽命、步進(jìn)應(yīng)力加速壽命和序進(jìn)應(yīng)力加速壽命）等。

常見測試項目

CPS半導(dǎo)體器材結(jié)殼熱阻

高加速壽命試驗

工作壽命試驗

冷熱沖擊試驗

高低溫循環(huán)沖擊

氙燈老化

濕熱老化

低溫老化

垂直/水平燃燒

項目意義

可以為產(chǎn)品設(shè)計和工藝改進(jìn)提供依據(jù)，指引產(chǎn)品可靠性工作方向；可以用于查明故障原因，有效提出并實施可靠性改進(jìn)措施；可以提高產(chǎn)品成品率和使用可靠性，降低維護(hù)維修成本；可明確引起產(chǎn)品失效的責(zé)任方，為司法仲裁提供依據(jù)。

常見檢測標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫

GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B：高溫

GBT 2423.3-2016 環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cab：恒定濕熱試驗

GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Db：交變濕熱（12h＋12h循環(huán)）

GB-T 2423.17-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗Ka：鹽霧

GBT 2423.10-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗振動（正弦）

GBT 2423.8-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ed：自由跌落

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