TEM數(shù)據(jù)分析可以標(biāo)定晶格間距、標(biāo)定衍射花樣等。分析方法主要是對照文獻(xiàn)以及平時積累的晶體學(xué)和電鏡知識,分析老師經(jīng)驗豐富,利用TEM分析發(fā)表過多篇高檔文章。
服務(wù)須知: 數(shù)據(jù)分析是基于您給的這個測試數(shù)據(jù),數(shù)據(jù)本身反映什么信息就是什么信息
樣品要求
??????? 無
??????? 電子衍射標(biāo)定:
???????
??????? 晶格標(biāo)定:
???????
??????? 衍射花樣的標(biāo)定一般要結(jié)合XRD,所以需要提供樣品的XRD數(shù)據(jù)或樣品的物相組成;
儀器設(shè)備
借助2000+大型儀器設(shè)備和豐富的處理方案,針對各行業(yè)研發(fā)分析中的難題,提供技術(shù)支撐和指導(dǎo)。
技術(shù)團(tuán)隊
由20多名博士、100余名碩士組成的技術(shù)過硬、經(jīng)驗豐富的技術(shù)團(tuán)隊,具備科研檢測的核心競爭力。
定制化服務(wù)
根據(jù)客戶需求和行業(yè)通用標(biāo)準(zhǔn),定制化測試方案,全程跟蹤測試情況。
能力全面
在華東、華中、華北、西北地區(qū)分別建有大型綜合檢測基地,具有行業(yè)頂尖的檢驗檢測分析實驗室。