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       項目簡介

       利用輝光放電源作為離子源與質(zhì)譜儀器聯(lián)接進行質(zhì)譜測定的一種分析 方法。 在材料科學(xué)領(lǐng)域，GDMS成為反應(yīng)性和非反應(yīng)性等離子體沉積過程的控制和表征的工具。由于其可以直接固體進樣，GDMS已成為無機固體材料，尤其是高純材料雜質(zhì)成分分析的強有力方法，可得到元素半定量數(shù)據(jù)。

       1. 測量時顯示時間-強度曲線，是客觀的，客觀體現(xiàn)隨濺射時間的增加元素強度的變化；
       2. 測量后根據(jù)校準(zhǔn)曲線擬合轉(zhuǎn)換成深度-百分含量曲線；
       3. 本數(shù)據(jù)用ORIGIN直接導(dǎo)入即可，出現(xiàn)很多縱坐標(biāo)，Y軸即為對應(yīng)元素，選擇需要的元素作圖即可（數(shù)據(jù)中可能出現(xiàn)“Fi”的數(shù)據(jù)列為儀器參數(shù)請忽略）
       
       結(jié)果展示
       
       常見問題

       1. 測試需要樣品導(dǎo)電嗎？適合測什么物質(zhì)呢？
       要求樣品必須導(dǎo)電，一般適用于純物質(zhì)中雜質(zhì)的測試。

       2. GDMS可以測的全部元素包含哪些呢？